透射/反射測(cè)量

透射/反射測(cè)量

透射/反射光譜是材料本身的一項(xiàng)重要光學(xué)特性，在現(xiàn)今工業(yè)蓬勃發(fā)展的背景下，對(duì)材料本身特性的質(zhì)量控制越來越嚴(yán)格，從而利用光纖光譜儀進(jìn)行快速準(zhǔn)確的透射光譜/反射光譜的測(cè)量技術(shù)也開始日漸成熟。對(duì)于不同種類的樣品，為了獲取更好的光譜數(shù)據(jù)，透射、反射這兩種基本模式又會(huì)演化為更多的形式。

反射率測(cè)量

1. 反射通常分為鏡面反射和漫反射。當(dāng)入射光在物體表面發(fā)生鏡面反射，通過反射探頭（FCR）測(cè)量，易造成光譜儀飽和，同時(shí)受測(cè)量距離及方向變化的影響較大。要保證測(cè)量精度，探頭到物體表面的距離必須跟探頭到鏡面參考（RS-2）的距離保持一致。

2. 當(dāng)入射光在物體表面發(fā)生漫反射，采用反射探頭或積分球，測(cè)量結(jié)果差不多。

3. 測(cè)量重復(fù)性，采用積分球可以保證在1%以內(nèi)。

      4. 為了避免光譜儀飽和，可以采用反射式積分球（AvaSphere-REFL），它的內(nèi)表面是均勻的漫射體，具有非常均勻的空間反射特性，鏡面反射光在內(nèi)表面經(jīng)過多次反射后，積分球內(nèi)壁上任意位置的光強(qiáng)相同。測(cè)量步驟，先將標(biāo)準(zhǔn)片置于積分球的采樣口測(cè)量存為參考，再將待測(cè)樣品置于采樣口測(cè)量，軟件會(huì)自動(dòng)計(jì)算出反射率R。
      5. 標(biāo)準(zhǔn)片包括WS-2漫反射和RS-2鏡面反射。

     透射率測(cè)量

      1. 對(duì)于各種光學(xué)材料，如玻璃、塑料、晶體、薄膜等的透射比測(cè)量，可以采用CUV-UV/VIS樣品支架（圖4），支架兩端通過光纖分別接光譜儀和光源。測(cè)量步驟，先測(cè)量光路中未放樣品時(shí)的光強(qiáng)P1存為參考，再將待測(cè)樣品置于樣品支架中測(cè)量透過的光強(qiáng)P2，軟件會(huì)自動(dòng)給出透射比T。

2. 對(duì)于有些特殊測(cè)量，如以不同入射角照射樣品，測(cè)量材料透射比的變化情況，就需要用到透射式積分球（圖5）。

測(cè)量步驟：光源接光纖輸出光，經(jīng)過透鏡準(zhǔn)直后，照射進(jìn)積分球的采樣口，測(cè)量到的光強(qiáng)P1保存為參考，再將待測(cè)樣品置于積分球的采樣口，準(zhǔn)直光透過樣品進(jìn)入積分球，測(cè)量到光強(qiáng)P2，軟件自動(dòng)計(jì)算并得到透過率T。

透射測(cè)量常用配置：

反射測(cè)量常用配置：